重磅！泰瑞達與中國高校建立集成電路自動測試大學項目

5月5日消息，自動測試設備供應商泰瑞達宣布，分別與合肥工業大學和福州大學建立了集成電路自動測試大學項目，基于Magnum V和測試機J750系列建立的課程體系已正式開課。泰瑞達計劃將聯合中國的更多高校開設相關課程，加大力度支持中國培養自己的半導體測試人才，為中國半導體行業的快速、健康的發展貢獻更多的推動力。

集成電路自動測試處于集成電路產業鏈的下游，自動測試設備(ATE)提供的測試環節貫穿了整個集成電路的產業鏈，是提高集成電路良品率的關鍵工序。科技的日新月異要求芯片功能越來越強大，而隨之帶來的是集成電路的復雜程度呈指數級的快速增長，這是芯片測試領域所面臨的極大挑戰。

泰瑞達(Teradyne)作為自動測試行業的領先者，在芯片測試領域擁有超過60年的專業經驗。泰瑞達憑借著不斷的創新保持著行業的領導地位，一直與時俱進為半導體行業保駕護航，將質量、安全和可持續性納入各個業務環節。其半導體測試產品組合正在轉變芯片組的測試方式，領域涉及汽車、工業、通信、消費者、智能手機、計算機和電子游戲應用等，改變人們的工作、生活和娛樂方式。泰瑞達相信高質量的人才儲備是創新最重要的動力，此次與中國大學共同合作不僅落實“產、學、研”合作正是泰瑞達對人才重視程度的體現。

泰瑞達從進入中國伊始即承諾支持中國半導體行業的長期發展，與中國高校分享知識，助力中國培養集成電路測試人才。泰瑞達基于盛行的內存型Magnum V和測試系統J750系列建立大學集成電路自動測試課程體系，通過將實踐課程和行業領先技術帶入大學，讓學生在大學期間既可獲得實踐經驗，為中國的半導體行業培養高素質且有實踐經驗的未來生力軍。目前，合肥工業大學已采用內存型Magnum V和SoC J750的課程，福州大學也采用了SoC J750課程。

Magnum V測試機平臺是一個基于待測芯片的多工位架構，可針對超高性能快閃存儲器及DRAM存儲器提供高產能以及出色的并行測試。測試工程師只需為單個芯片編寫測試程序，系統自動將測試程序復制到多處，從而實現并行測試效率最大化。所有軟件工具都具有多工位識別能力，使測試工程師可以在任何待測芯片中對芯片性能進行排查。Magnum V測試機平臺提供靈活和可擴展的硬件配置、開放架構的軟件開發環境，是專業人員從研發設計到規模量產的可信賴首選。

J750系列半導體測試機臺使用IG-XL™軟件平臺進行操作，是測試質量的行業標準，是世界領先的汽車和消費應用類MCU產品公認的解決方案，也是圖像傳感器測試的全球領導者。“零占用空間”能夠最大程度地利用測試場地來增加容量，而更高的多站點吞吐量可以降低測試成本，J750測試系統的可擴展性使其成為指紋傳感器、MEMS和帶有MCU無線功能的物聯網產品的理想選擇。

未來，泰瑞達將依托此次合作的經驗，與中國的大學開展更多的課程，為中國半導體行業的產、學、研、用提供全方位的支持，助力中國半導體行業的長期發展，滿足發展集成電路產業的戰略需求。